Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
COMMENTS ON GRAIN-BOUNDARY CON...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
COMMENTS ON GRAIN-BOUNDARY CONTRAST IN FIELD-ION MICROSCOPE IMAGES .1.
Бібліографічні деталі
Автори:
Smith, D
,
Smith, G
Формат:
Journal article
Опубліковано:
1973
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Опис
Резюме:
Схожі ресурси
Some aspects of image projection in the field-ion microscope
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1999)
ANALOG INVESTIGATIONS OF ELECTRIC-FIELD DISTRIBUTION AND ION TRAJECTORIES IN FIELD-ION MICROSCOPE
за авторством: Birdseye, P, та інші
Опубліковано: (1974)
FRACTURE OF FIELD-ION MICROSCOPE SPECIMENS
за авторством: Wilkes, T, та інші
Опубліковано: (1972)
Simulation of channeling contrast in scanning ion microscope images
за авторством: Kaoru Ohya
Опубліковано: (2018-01-01)
FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
за авторством: Bhatti, A, та інші
Опубліковано: (1985)