Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Rose, J
,
Goringe, M
,
Smith, G
,
Moore, A
Médium:
Journal article
Jazyk:
English
Vydáno:
1986
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Autor: Godfrey, T, a další
Vydáno: (1989)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1983)
APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
Autor: Miller, M, a další
Vydáno: (1994)
TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Autor: Beaven, P, a další
Vydáno: (1980)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1985)