An Undergraduate Nanotechnology Engineering Laboratory Course on Atomic Force Microscopy

An Undergraduate Nanotechnology Engineering Laboratory Course on Atomic Force Microscopy

Show other versions (1)

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	Russo, D, Fagan, R, Hesjedal, T
פורמט:	Journal article
יצא לאור:	2011

פריטים דומים

An undergraduate nanotechnology engineering laboratory course on atomic force microscopy
מאת: Russo, D, et al.
יצא לאור: (2011)

Development of an electronic nose sensing platform for undergraduate education in nanotechnology
מאת: Russo, D, et al.
יצא לאור: (2011)

Atomic force microscopy /
מאת: 491506 Eaton, Peter Jonathan, et al.
יצא לאור: (2010)

Noncontact atomic force microscopy
מאת: Udo D. Schwarz
יצא לאור: (2012-02-01)

Noncontact atomic force microscopy/
מאת: Morita, S. (Seizo), 1948-, et al.
יצא לאור: (c200)

Atomic force microscopy for biologists /
מאת: 318144 Morris, V. J., et al.
יצא לאור: (2010)

Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
מאת: Foster, A. (Adam Stuart), 1975-, et al.
יצא לאור: (2006)

Research highlights: Applications of atomic force microscopy in natural and engineered water systems
מאת: Zhu, R., et al.
יצא לאור: (2016)

Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy /
מאת: Cohen, Samuel H., et al.
יצא לאור: (1994)

A modular atomic force microscope for nanotechnology research
מאת: Houck, Andrew Careaga
יצא לאור: (2015)

Atomic force microscopy in nanobiology /
מאת: Takeyasu, Kunio, editor
יצא לאור: (2014)

Noncontact atomic force microscopy III
מאת: Mehmet Z. Baykara, et al.
יצא לאור: (2016-06-01)

Noncontact atomic force microscopy II
מאת: Mehmet Z. Baykara, et al.
יצא לאור: (2014-03-01)

Progress in the Correlative Atomic Force Microscopy and Optical Microscopy
מאת: Lulu Zhou, et al.
יצא לאור: (2017-04-01)

Influence of surface acoustic waves on lateral forces in scanning force microscopies
מאת: Behme, G, et al.
יצא לאור: (2001)

High-precision atomic force microscopy with atomically-characterized tips
מאת: A Liebig, et al.
יצא לאור: (2020-01-01)

Scientific researches in atomic force microscopy /
מאת: Wright, Kate, editor
יצא לאור: (2015)

Amplitude modulation atomic force microscopy /
מאת: Castro Garca̕, Ricardo
יצא לאור: (2010)

ATOMIC-FORCE MICROSCOPY AND ITS APPLICATIONS /
מאת: editor, et al.
יצא לאור: (2019)

Piezoresistive sensors for atomic force microscopy
מאת: Tomasz Dębski, et al.
יצא לאור: (2001-03-01)

Optical force microscopy: combining light with atomic force microscopy for nanomaterial identification
מאת: Jahan Nusrat, et al.
יצא לאור: (2019-09-01)

Force Sensing on Cells and Tissues by Atomic Force Microscopy
מאת: Hatice Holuigue, et al.
יצא לאור: (2022-03-01)

Polynomial force approximations and multifrequency atomic force microscopy
מאת: Daniel Platz, et al.
יצא לאור: (2013-06-01)

High-frequency multimodal atomic force microscopy
מאת: Adrian P. Nievergelt, et al.
יצא לאור: (2014-12-01)

Application of Stereo Imaging to Atomic Force Microscopy
מאת: Aumond, Bernardo D., et al.
יצא לאור: (2003)

Accurate capacitive metrology for atomic force microscopy
מאת: Mazzeo, Aaron D. (Aaron David), 1979-
יצא לאור: (2006)

Atomic force microscopy as an advanced tool in neuroscience
מאת: Jazvinšćak Jembrek Maja, et al.
יצא לאור: (2015-01-01)

Handbook of microscopy for nanotechnology /
מאת: Yao, Nan, et al.
יצא לאור: (2005)

Atomic force microscopy in process engineering : introduction to AFM for improved processes and products /
מאת: Bowen, W. Richard, et al.
יצא לאור: (2009)

“May the Force Be with You!” Force–Volume Mapping with Atomic Force Microscopy
מאת: Olajumoke H. Olubowale, et al.
יצא לאור: (2021-09-01)

Nanotechnology in undergraduate education /
מאת: Pacheco, Kimberly 527526, et al.
יצא לאור: (c200)

Electronegativity determination of individual surface atoms by atomic force microscopy
מאת: Jo Onoda, et al.
יצא לאור: (2017-04-01)

DNA Nanotechnology in the Undergraduate Laboratory: Toehold-Less Strand Displacement in Switchback DNA
מאת: Bharath Raj Madhanagopal, et al.
יצא לאור: (2025-01-01)

Scanning acoustic force microscopy on interdigital transducers
מאת: Hesjedal, T, et al.
יצא לאור: (1996)

Atomic resolution with high-eigenmode tapping mode atomic force microscopy
מאת: N. Severin, et al.
יצא לאור: (2022-05-01)

Force dependent metalloprotein conductance by conducting atomic force microscopy
מאת: Zhao, J, et al.
יצא לאור: (2003)

Imaging Structures and Measuring Forces at Nanoscales with Atomic Force Microscopy
מאת: Nguyen V. Anh
יצא לאור: (2005-11-01)

Shale adhesion force measurements via atomic force microscopy
מאת: Mitiurev Nikolai, et al.
יצא לאור: (2021-01-01)

Image processing for precision atomic force microscopy
מאת: Yeo, Yee, 1977-
יצא לאור: (2014)

Atomic force microscopy in liquid : biological applications /
מאת: Bar,̤ Arturo M., et al.
יצא לאור: (c201)