Electron channelling contrast imaging of dislocation substructures in the vicinity of short fatigue cracks in Cu

Electron channelling contrast imaging of dislocation substructures in the vicinity of short fatigue cracks in Cu

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Ahmed, J, Wilkinson, A, Roberts, S, Hirsch, P
التنسيق:	Conference item
منشور في:	1998

مواد مشابهة

Examination of dislocation substructures in fatigued Cu using electron channelling contrast imaging
حسب: Ahmed, J, وآخرون
منشور في: (1999)

Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
حسب: Ahmed, J, وآخرون
منشور في: (1999)

Electron channelling contrast imaging characterization of dislocation structures associated with extrusion and intrusion systems and fatigue cracks in copper single crystals
حسب: Ahmed, J, وآخرون
منشور في: (2001)

THE EFFECTS OF SURFACE STRESS-RELAXATION ON ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGES OF DISLOCATIONS
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (1995)

Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
حسب: Ahmed, J, وآخرون
منشور في: (1997)

Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (1994)

ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
حسب: Czernuszka, J, وآخرون
منشور في: (1991)

Dislocation modelling of stage I fatigue crack growth
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (1999)

Characterizing dislocation structure evolution during cyclic deformation using electron channelling contrast imaging
حسب: Ahmed, J, وآخرون
منشور في: (2006)

Multiple scattering simulation of electron channelling contrast images of dislocations at interfaces
حسب: Dudarev, S, وآخرون
منشور في: (1995)

Electron channeling and ion channeling contrast imaging of dislocations in nitride thin films
حسب: Trager-Cowan, C, وآخرون
منشور في: (2008)

ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (1993)

A dislocation model for the two critical stress intensities required for threshold fatigue crack propagation
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (1996)

Electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging of tilt and dislocations in nitride thin films
حسب: Trager-Cowan, C, وآخرون
منشور في: (2007)

Modelling the threshold conditions for propagation of stage I fatigue cracks
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (1998)

DISLOCATIONS, CRACKS AND BRITTLENESS IN SINGLE-CRYSTALS
حسب: Roberts, S, وآخرون
منشور في: (1993)

Decoherence in electron backscattering by kinked dislocations.
حسب: Dudarev, S, وآخرون
منشور في: (1999)

Decoherence in electron backscattering by kinked dislocations
حسب: Dudarev, S, وآخرون
منشور في: (1999)

The behaviour of short fatigue cracks /
حسب: Miller, K. J. (Keith John)
منشور في: (1986)

DISLOCATION-CONTROLLED STABLE CRACK-GROWTH IN MO AND MGO
حسب: Booth, A, وآخرون
منشور في: (1993)

THE DYNAMICS OF DISLOCATION GENERATION AT CRACK TIPS AND THE DUCTILE-BRITTLE TRANSITION
حسب: Hirsch, P, وآخرون
منشور في: (1987)

DISLOCATION MOBILITY AND CRACK TIP PLASTICITY AT THE DUCTILE-BRITTLE TRANSITION
حسب: Hirsch, P, وآخرون
منشور في: (1988)

DISLOCATION-DRIVEN STABLE CRACK-GROWTH BY MICROCLEAVAGE IN SEMIBRITTLE CRYSTALS
حسب: Hirsch, P, وآخرون
منشور في: (1992)

THE DYNAMICS OF EDGE DISLOCATION GENERATION ALONG A PLANE ORTHOGONAL TO A MODE-I CRACK
حسب: Hirsch, P, وآخرون
منشور في: (1989)

Fatigue: SEM based studies of crack initiation and early growth
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (2002)

ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF INTERFACIAL DEFECTS IN STRAINED SILICON-GERMANIUM LAYERS ON SILICON
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (1993)

A dislocation model of plasticity with particular application to fatigue crack closure
حسب: McKellar, D
منشور في: (2001)

Synchrotron based reciprocal space mapping and dislocation substructure analysis
حسب: Hofmann, F, وآخرون
منشور في: (2009)

Synchrotron based reciprocal space mapping and dislocation substructure analysis
حسب: Hofmann, F, وآخرون
منشور في: (2009)

ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
حسب: Czernuszka, J, وآخرون
منشور في: (1991)

ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
حسب: Czernuszka, J, وآخرون
منشور في: (1991)

Simulations of electron diffraction contrast images of nanometer-sized dislocation loops
حسب: Zhou, Z, وآخرون
منشور في: (2004)

TEM INVESTIGATION OF THE PLASTIC ZONE, DISLOCATION ROSETTES AND CRACKS AROUND VICKERS INDENTATIONS IN SILICON.
حسب: Samuels, J, وآخرون
منشور في: (1985)

Probing deformation substructure by synchrotron X-ray diffraction and dislocation dynamics modelling.
حسب: Korsunsky, A, وآخرون
منشور في: (2010)

TEM diffraction contrast images simulation of dislocations
حسب: WU, W., وآخرون
منشور في: (2022)

TEM diffraction contrast images simulation of dislocations
حسب: WU, W., وآخرون
منشور في: (2022)

Controlled initiation of short fatigue cracks in 316L steel
حسب: Stefanescu, D, وآخرون
منشور في: (2005)

Short fatigue cracks in austempered ductile cast iron (ADI)
حسب: Marrow, T, وآخرون
منشور في: (2000)

Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (2016)

IMAGING OF DISLOCATIONS USING BACKSCATTERED ELECTRONS IN A SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
حسب: Czernuszka, J, وآخرون
منشور في: (1990)