Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Role of implantation-induced d...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Export afgerond —
Role of implantation-induced defects on the response time of semiconductor saturable absorbers
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Tan, H
,
Jagadish, C
,
Lederer, M
,
Luther-Davies, B
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Haiml, M
,
Siegner, U
,
Keller, U
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
1999
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
Ion-implanted GaAs for ultrafast saturable absorber applications
door: Lederer, M, et al.
Gepubliceerd in: (2000)
The effect of proton bombardment on semiconductor saturable absorber structure
door: Gopinath, Juliet Tara, 1976-
Gepubliceerd in: (2005)
{111} and {311} rod-like defects in silicon ion implanted silicon
door: Chou, C, et al.
Gepubliceerd in: (1996)
{111} defects in 1-MeV-silicon-ion-implanted silicon.
door: Chou, C, et al.
Gepubliceerd in: (1995)
DISLOCATION GEOMETRIES IN SEMICONDUCTORS AND IN SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES
door: Cockayne, D, et al.
Gepubliceerd in: (1991)