Coull, J., Dickens, T., Ng, H., & Serna, J. (2022). Five hole probe errors caused by fluctuating incidence. EDP Sciences.
Chicago-viite (17. p.)Coull, J., T. Dickens, H. Ng, ja J. Serna. Five Hole Probe Errors Caused by Fluctuating Incidence. EDP Sciences, 2022.
MLA-viite (9. p.)Coull, J., et al. Five Hole Probe Errors Caused by Fluctuating Incidence. EDP Sciences, 2022.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.