A new method for the determination of the wave aberration function for high-resolution TEM.; 2. Measurement of the antisymmetric aberrations.

A new method for the determination of the wave aberration function for high-resolution TEM.; 2. Measurement of the antisymmetric aberrations.

A new method is presented for the determination of the antisymmetric coefficients of the wave aberration function from a tableau of tilted illumination images. The approach is based on measurements of the apparent defocus and two-fold astigmatism using a phase correlation function and phase contrast...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Meyer, R, Kirkland, A, Saxton, W
Định dạng:	Journal article
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	2004

Những quyển sách tương tự

A new method for the determination of the wave aberration function for high resolution TEM 1. Measurement of the symmetric aberrations.
Bằng: Meyer, R, et al.
Được phát hành: (2002)

High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Bằng: Hetherington, C, et al.
Được phát hành: (2006)

High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
Bằng: Hetherington, C, et al.
Được phát hành: (2008)

"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2004)

"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: aberration measurement and wavefunction reconstruction.
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2004)

Aberration corrected TEM: current status and future prospects
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2008)

Optimal tilt magnitude determination for aberration-corrected super resolution exit wave function reconstruction.
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2009)

Accurate evaluation of aberration for probe-forming system and influence of aberration on high-resolution STEM image
Bằng: Sawada, H, et al.
Được phát hành: (2017)

Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2004)

Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
Bằng: Sawada, H, et al.
Được phát hành: (2005)

Local measurement and computational refinement of aberrations for HRTEM.
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2006)

Measurement of off-axial aberration
Bằng: Sawada, H, et al.
Được phát hành: (2017)

Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
Bằng: Ciston, J, et al.
Được phát hành: (2009)

Aberration measurement using the Ronchigram contrast transfer function.
Bằng: Lupini, A, et al.
Được phát hành: (2010)

Aberration measurement using the Ronchigram constrast transfer function
Bằng: Lupini, A, et al.
Được phát hành: (2010)

Zernike Phase Plates for aberration-corrected TEM in Material Science
Bằng: Hettler Simon, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Aberration Correction and Exit Wave Reconstruction Using Tilt Azimuth Data
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2009)

Wave theory of aberrations /
Bằng: 176540 Hopkins, Harold Horace
Được phát hành: (1950)

Aberration-Corrected Imaging in CTEM
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2011)

New possibilities with aberration-corrected electron microscopy.
Bằng: Cockayne, D, et al.
Được phát hành: (2009)

Antisymmetric Orbit Functions
Bằng: Anatoliy Klimyk, et al.
Được phát hành: (2007-02-01)

Indirect super resolved microscopy in the TEM
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (1999)

Aberration corrected tilt series restoration
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2008)

Antisymmetrization of the wave functions consisting of spin-isospin and hyperspherical parts
Bằng: Margolin Lia Leon
Được phát hành: (2024-01-01)

Performance and early applications of a versatile double aberration-corrected JEOL-2200FS FEG TEM/STEM at Aalto University
Bằng: Jiang, H, et al.
Được phát hành: (2012)

The application of spherical aberration correction and focal series restoration to high-resolution images of platinum nanocatalyst particles
Bằng: Gontard, L, et al.
Được phát hành: (2006)

Assessing Aberrant Subclavian Artery on High-Resolution Esophageal Manometry
Bằng: Lauren Loeb, et al.
Được phát hành: (2025-01-01)

High-resolution cryo-EM reconstructions in the presence of substantial aberrations
Bằng: Raquel Bromberg, et al.
Được phát hành: (2020-05-01)

Characterization of Aberration-Corrected Lorentz TEM Applying a Magnetic Field with Objective Lens
Bằng: Ninota Yuki, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Bằng: Ciston, J, et al.
Được phát hành: (2009)

Aberrations and adaptive optics in super-resolution microscopy
Bằng: Booth, M, et al.
Được phát hành: (2015)

Applications of the Oxford-JEOL aberration-corrected electron microscope
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2010)

Hardy and Sobolev inequalities on antisymmetric functions
Bằng: Th. Hoffmann-Ostenhof, et al.
Được phát hành: (2024-04-01)

Calculations of spherical aberration-corrected imaging behaviour.
Bằng: Chang, L, et al.
Được phát hành: (2003)

High-resolution imaging of zeolite with aberration-corrected transmission electron microscopy
Bằng: Kaname Yoshida, et al.
Được phát hành: (2013-04-01)

Materials advances through aberration-corrected electron microscopy
Bằng: Pennycook, S, et al.
Được phát hành: (2006)

Materials advances through aberration-corrected electron microscopy
Bằng: Pennycook, S, et al.
Được phát hành: (2006)

Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
Bằng: Hetherington, C, et al.
Được phát hành: (2005)

Aberration measurement of the probe-forming system of an electron microscope using two-dimensional materials
Bằng: Sawada, H, et al.
Được phát hành: (2017)

TOPICAL REVIEW: Present status and future prospects of spherical aberration corrected TEM/STEM for study of nanomaterials
Bằng: Nobuo Tanaka
Được phát hành: (2008-01-01)