$Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment$

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment

Ցույց տալ այլ տարբերակներ (1)

We analyse the link between precision of pattern shift measurements and the resolution of the measurement of elastic strain and lattice rotation using high resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD). This study combines analysis of high quality experimentally obtained diffraction patterns...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Britton, T, Jiang, J, Clough, R, Tarleton, E, Kirkland, A, Wilkinson, A
Ձևաչափ:	Journal article
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	2013

Նմանատիպ նյութեր

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - Part 2: Experimental demonstration
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: effects of detector binning and step size.
‌: Jiang, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
‌: Kamaya, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
‌: Dingley, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
‌: Tong, V, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

Pattern matching analysis of electron backscatter diffraction patterns for pattern centre, crystal orientation and absolute elastic strain determination – accuracy and precision assessment
‌: Tanaka, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2019)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1997)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2006)

Quantification of plastic strain of stainless steel and nickel alloy by electron backscatter diffraction
‌: Kamaya, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
‌: Vilalta-Clemente, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

High-resolution electron backscatter diffraction: an emerging tool for studying local deformation
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Rapid electron backscatter diffraction mapping: painting by numbers
‌: Tong, V, և այլն
Հրապարակվել է: (2018)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements
‌: Tong, V, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

Crystal orientation and detector distance effects on resolving pseudosymmetry by electron backscatter diffraction
‌: Pang, Edward L, և այլն
Հրապարակվել է: (2022)

Crystal orientation and detector distance effects on resolving pseudosymmetry by electron backscatter diffraction
‌: Pang, Edward L., և այլն
Հրապարակվել է: (2022)

Probing deformation and revealing microstructural mechanisms with cross-correlation-based, high-resolution electron backscatter diffraction
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Geometrically necessary dislocation densities in olivine obtained using high-angular resolution electron backscatter diffraction
‌: Wallis, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2016)

High-angular resolution electron backscatter diffraction as a new tool for mapping lattice distortion in geological minerals
‌: Wallis, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2019)

J-integral analysis of the elastic strain fields of ferrite deformation twins using electron backscatter diffraction
‌: Koko, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2021)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
‌: K.K. Dikhanbayev, և այլն
Հրապարակվել է: (2016-10-01)

Electron backscatter diffraction study of dislocation content of a macrozone in hot-rolled Ti-6Al-4V alloy
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Electron backscatter diffraction study of dislocation content of a macrozone in hot-rolled Ti-6Al-4V alloy
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

In situ characterisation of the strain fields of intragranular slip bands in ferrite by high-resolution electron backscatter diffraction
‌: Koko, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2022)

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction
‌: Tucker, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2000)

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction
‌: Tucker, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2000)

Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Electron backscatter diffraction in materials characterization
‌: Dejan Stojakovic
Հրապարակվել է: (2012-03-01)

Strain measurement using electron back scatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1998)

High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors
‌: Vilalta-Clemente, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

Direct Detectors for Electron Microscopy
‌: Clough, R, և այլն
Հրապարակվել է: (2014)