$Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment$

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment

Показати інші версії (1)

We analyse the link between precision of pattern shift measurements and the resolution of the measurement of elastic strain and lattice rotation using high resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD). This study combines analysis of high quality experimentally obtained diffraction patterns...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Britton, T, Jiang, J, Clough, R, Tarleton, E, Kirkland, A, Wilkinson, A
Формат:	Journal article
Мова:	English
Опубліковано:	2013

Схожі ресурси

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - Part 2: Experimental demonstration
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2011)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2012)

Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: effects of detector binning and step size.
за авторством: Jiang, J, та інші
Опубліковано: (2013)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
за авторством: Kamaya, M, та інші
Опубліковано: (2005)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
за авторством: Dingley, D, та інші
Опубліковано: (2010)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2015)

Pattern matching analysis of electron backscatter diffraction patterns for pattern centre, crystal orientation and absolute elastic strain determination – accuracy and precision assessment
за авторством: Tanaka, T, та інші
Опубліковано: (2019)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1997)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

Quantification of plastic strain of stainless steel and nickel alloy by electron backscatter diffraction
за авторством: Kamaya, M, та інші
Опубліковано: (2006)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Vilalta-Clemente, A, та інші
Опубліковано: (2015)

High-resolution electron backscatter diffraction: an emerging tool for studying local deformation
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2010)

Rapid electron backscatter diffraction mapping: painting by numbers
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2018)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2015)

Crystal orientation and detector distance effects on resolving pseudosymmetry by electron backscatter diffraction
за авторством: Pang, Edward L, та інші
Опубліковано: (2022)

Crystal orientation and detector distance effects on resolving pseudosymmetry by electron backscatter diffraction
за авторством: Pang, Edward L., та інші
Опубліковано: (2022)

Probing deformation and revealing microstructural mechanisms with cross-correlation-based, high-resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Geometrically necessary dislocation densities in olivine obtained using high-angular resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Wallis, D, та інші
Опубліковано: (2016)

High-angular resolution electron backscatter diffraction as a new tool for mapping lattice distortion in geological minerals
за авторством: Wallis, D, та інші
Опубліковано: (2019)

J-integral analysis of the elastic strain fields of ferrite deformation twins using electron backscatter diffraction
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2021)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
за авторством: K.K. Dikhanbayev, та інші
Опубліковано: (2016-10-01)

Electron backscatter diffraction study of dislocation content of a macrozone in hot-rolled Ti-6Al-4V alloy
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2010)

Electron backscatter diffraction study of dislocation content of a macrozone in hot-rolled Ti-6Al-4V alloy
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2010)

In situ characterisation of the strain fields of intragranular slip bands in ferrite by high-resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2022)

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction
за авторством: Tucker, A, та інші
Опубліковано: (2000)

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction
за авторством: Tucker, A, та інші
Опубліковано: (2000)

Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2010)

Electron backscatter diffraction in materials characterization
за авторством: Dejan Stojakovic
Опубліковано: (2012-03-01)

Strain measurement using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1998)

High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors
за авторством: Vilalta-Clemente, A, та інші
Опубліковано: (2015)

Direct Detectors for Electron Microscopy
за авторством: Clough, R, та інші
Опубліковано: (2014)