Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment

We analyse the link between precision of pattern shift measurements and the resolution of the measurement of elastic strain and lattice rotation using high resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD). This study combines analysis of high quality experimentally obtained diffraction patterns...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Britton, T, Jiang, J, Clough, R, Tarleton, E, Kirkland, A, Wilkinson, A
Ձևաչափ: Journal article
Լեզու:English
Հրապարակվել է: 2013