Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
Veure altres versions (1)
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
King, R
,
Mackenzie, R
,
Smith, G
,
Cade, N
Format:
Conference item
Publicat:
1995
Fons
Descripció
Altra versió (1)
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS
per: King, R, et al.
Publicat: (1994)
ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON
per: King, R, et al.
Publicat: (1995)
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
per: Huang, M, et al.
Publicat: (1994)
ATOM-PROBE ANALYSIS AND FIELD-EMISSION STUDIES OF SILICON
per: King, R, et al.
Publicat: (1994)
FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
per: Bhatti, A, et al.
Publicat: (1985)