Bonilla, S. (2020). Data for Charge Fluctuations at the Si-SiO2 Interface and its Effect on Surface Recombination in Solar Cells. University of Oxford.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Bonilla, S. Data for Charge Fluctuations at the Si-SiO2 Interface and Its Effect on Surface Recombination in Solar Cells. University of Oxford, 2020.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Bonilla, S. Data for Charge Fluctuations at the Si-SiO2 Interface and Its Effect on Surface Recombination in Solar Cells. University of Oxford, 2020.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.