Atomic force microscopy studies of the KF (100) surface: formation of water-rich surface phases in moist N,N-dimethylformamide.
A water rich surface phase is observed in the system KF-DMF-H2O by atomic force microscopy; the effects on surface morphology and likely implications for halogen exchange reactions using KF are discussed.
Հիմնական հեղինակներ: | Macfie, G, Wilkins, S, Compton, R |
---|---|
Ձևաչափ: | Journal article |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
2002
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Electrical conductivity and solubility of KF in N,N-dimethylformamide up to 125 degrees C
: Macfie, G, և այլն
Հրապարակվել է: (2001) -
Scanned Probe Oxidation on<it>p</it>-GaAs(100) Surface with an Atomic Force Microscopy
: Juang Jenh-Yih, և այլն
Հրապարակվել է: (2008-01-01) -
Surface investigation of a cubic AIN buffer layer and GaN grown on Si (111) and si (100) as revealed by atomic force microscopy
: Bae, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2006) -
Profilometry and atomic force microscopy for surface characterization
: Li Mei, և այլն
Հրապարակվել է: (2023-03-01) -
Electronegativity determination of individual surface atoms by atomic force microscopy
: Jo Onoda, և այլն
Հրապարակվել է: (2017-04-01)