$High energy transmission micro-beam Laue synchrotron X-ray diffraction$

High energy transmission micro-beam Laue synchrotron X-ray diffraction

Показати інші версії (1)

Synchrotron-based micro-beam Laue diffraction is an experimental technique for the study of intra-granular lattice orientation and elastic strain in individual crystallites of polycrystalline engineering alloys. Traditionally the technique operates in reflection geometry with a polychromatic X-ray b...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Hofmann, F, Song, X, Jun, T, Abbey, B, Peel, M, Daniels, J, Honkimäki, V, Korsunsky, A
Формат:	Journal article
Мова:	English
Опубліковано:	Elsevier 2010
Предмети:	Engineering & allied sciences

Схожі ресурси

High energy transmission micro-beam Laue synchrotron X-ray diffraction
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2010)

Intergranular lattice misorientation mapping by synchrotron x-ray micro-beams: Laue vs energy-resolved Laue vs monochromatic reciprocal space analysis
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2010)

INTRAGRANULAR LATTICE MISORIENTATION MAPPING BY SYNCHROTRON X-RAY MICRO-BEAMS: LAUE VS ENERGY-RESOLVED LAUE VS MONOCHROMATIC RECIPROCAL SPACE ANALYSIS
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2010)

Advanced strain analysis by high energy synchrotron X-ray diffraction
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2002)

Strain gradient polycrystal plasticity analysis: Fe modeling and synchrotron X-ray diffraction
за авторством: Song, X, та інші
Опубліковано: (2010)

Probing intra-granular deformation by micro-beam Laue diffraction
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2009)

Polycrystal deformation analysis by high energy synchrotron X-ray diffraction on the I12 JEEP beamline at Diamond Light Source
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2010)

Mapping two-dimensional state of strain using synchrotron x-ray diffraction
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (1998)

High-energy transmission Laue micro-beam X-ray diffraction: A probe for intra-granular lattice orientation and elastic strain in thicker samples
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2012)

High-energy transmission Laue micro-beam X-ray diffraction: a probe for intra-granular lattice orientation and elastic strain in thicker samples.
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2012)

Residual stresses in an induction hardened gear tooth mapped by synchrotron X-ray diffraction
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2003)

Synchrotron energy-dispersive X-ray diffraction analysis of residual strains around friction welds between dissimilar aluminium and nickel alloys
за авторством: Jun, T, та інші
Опубліковано: (2008)

Analysis of plastic deformation and residual elastic strain in a titanium alloy using synchrotron x-ray diffraction
за авторством: Golshan, M, та інші
Опубліковано: (2005)

Fast residual stress mapping using energy-dispersive synchrotron X-ray diffraction on station 16.3 at the SRS
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2002)

Analysis of strain error sources in micro-beam Laue diffraction
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2011)

Residual stresses in rolled and machined nickel alloy plates: synchrotron X-ray diffraction measurement and three-dimensional eigenstrain analysis
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2007)

Residual strain measurement by synchrotron diffraction
за авторством: Withers, P, та інші
Опубліковано: (2002)

High energy white beam x-ray diffraction studies of residual strains in engineering components
за авторством: Zhang, S, та інші
Опубліковано: (2008)

Imaging of grain-level orientation and strain in thicker metallic polycrystals by high energy transmission micro-beam Laue (HETL) diffraction techniques
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2012)

Comparison of X-ray diffraction measurement of residual elastic strains: monochromatic beam and image plate versus white beam energy-dispersive analysis
за авторством: Vorster, W, та інші
Опубліковано: (2007)

High energy synchrotron X-ray measurements of 2D residual stress states in metal matrix composites
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2000)

Residual elastic strain due to laser shock peening: synchrotron diffraction measurement
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Variational eigenstrain analysis of synchrotron diffraction measurements of residual elastic strain in a bent titanium alloy bar
за авторством: Korsunsky, A
Опубліковано: (2006)

Dislocation-based plasticity model and micro-beam Laue diffraction analysis of polycrystalline Ni foil: A forward prediction
за авторством: Song, X, та інші
Опубліковано: (2010)

Micro-beam Laue alignment of multi-reflection Bragg coherent diffraction imaging measurements
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2017)

Synchrotron based reciprocal space mapping and dislocation substructure analysis
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2009)

A review of recent in situ deformation studies using synchrotron X-ray (Micro) beams
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2012)

Diffraction post-processing of 3D dislocation dynamics simulations for direct comparison with micro-beam Laue experiments
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2012)

Residual stresses in a welded superalloy disc: characterization using synchrotron diffraction and numerical process modelling
за авторством: Jensen, M, та інші
Опубліковано: (2002)

Preparation and analysis of quasicrystalline phases by high energy ball milling and X-ray diffraction
за авторством: Salimon, A, та інші
Опубліковано: (2000)

Energy calibration and full-pattern refinement for strain analysis using energy-dispersive and monochromatic X-ray diffraction
за авторством: Liu, J, та інші
Опубліковано: (2005)

Triaxial residual strains in a railway rail measured by neutron diffraction
за авторством: Jun, T, та інші
Опубліковано: (2009)

Strain tomography of polycrystalline zirconia dental prostheses by synchrotron X-ray diffraction
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2011)

Simulations of time-resolved x-ray diffraction in Laue geometry
за авторством: Lings, B, та інші
Опубліковано: (2006)

Probing the deformation of ductile polycrystals by synchrotron x-ray micro-diffraction
за авторством: Hofmann, F, та інші
Опубліковано: (2011)

Probing deformation substructure by synchrotron X-ray diffraction and dislocation dynamics modelling.
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2010)

Analysis of the internal structure and lattice (mis)orientation in individual grains of deformed CP nickel polycrystals by synchrotron X-ray micro-diffraction and microscopy
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2012)

Analysis of the internal structure and lattice (mis)orientation in individual grains of deformed CP nickel polycrystals by synchrotron X-ray micro-diffraction and microscopy
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2012)

Laue-DIALS: Open-source software for polychromatic x-ray diffraction data
за авторством: Rick A. Hewitt, та інші
Опубліковано: (2024-09-01)

Strain analysis in composites using synchrotron X-ray diffraction
за авторством: Wells, K, та інші
Опубліковано: (1998)