Electrical breakdown of suspended mono- and few-layer tungsten disulfide via sulfur depletion identified by in situ atomic imaging

Electrical breakdown of suspended mono- and few-layer tungsten disulfide via sulfur depletion identified by in situ atomic imaging

The high-bias and breakdown behavior of suspended mono- and few-layer WS2 was explored by in situ aberration-corrected transmission electron microscopy. The suspended WS2 devices were found to undergo irreversible breakdown at sufficiently high biases due to vaporization of the WS2. Simultaneous to...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Fan, Y, Robertson, A, Zhou, Y, Chen, Q, Zhang, X, Browning, N, Zheng, H, Rümmeli, M, Warner, J
Ձևաչափ: Journal article
Լեզու:English
Հրապարակվել է: American Chemical Society 2017

Նմանատիպ նյութեր

Նմանատիպ նյութեր