Meyer, R., & Kirkland, A. (2004). Measuring isoplanaticity in high-resolution electron microscopy.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Meyer, R., و A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Meyer, R., و A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.