Meyer, R., & Kirkland, A. (2004). Measuring isoplanaticity in high-resolution electron microscopy.
Citace podle Chicago (17th ed.)Meyer, R., a A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
Citace podle MLA (9th ed.)Meyer, R., a A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..