Meyer, R., & Kirkland, A. (2004). Measuring isoplanaticity in high-resolution electron microscopy.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Meyer, R., και A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Meyer, R., και A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.