Meyer, R., & Kirkland, A. (2004). Measuring isoplanaticity in high-resolution electron microscopy.
Chicago-viite (17. p.)Meyer, R., ja A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
MLA-viite (9. p.)Meyer, R., ja A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.