Meyer, R., & Kirkland, A. (2004). Measuring isoplanaticity in high-resolution electron microscopy.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Meyer, R., e A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
Citação MLA (9ª ed.)Meyer, R., e A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
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