Meyer, R., & Kirkland, A. (2004). Measuring isoplanaticity in high-resolution electron microscopy.
Chicago-referens (17:e uppl.)Meyer, R., och A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
MLA-referens (9:e uppl.)Meyer, R., och A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.