Meyer, R., & Kirkland, A. (2004). Measuring isoplanaticity in high-resolution electron microscopy.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Meyer, R., và A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Meyer, R., và A. Kirkland. Measuring Isoplanaticity in High-resolution Electron Microscopy. 2004.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.