Measuring isoplanaticity in high-resolution electron microscopy
We recently reported on a new method for the accurate determination of the symmetric aberration coefficients (defocus and twofold astigmatism) from a focal series of high resolution images based on an analysis of the image Fourier transform phases. This can be extended to also cover the antisymmetri...
প্রধান লেখক: | Meyer, R, Kirkland, A |
---|---|
বিন্যাস: | Conference item |
প্রকাশিত: |
2004
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Non-isoplanatic lens aberration correction in dark-field digital holographic microscopy for semiconductor metrology
অনুযায়ী: Tamar van Gardingen-Cromwijk, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2024-02-01) -
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction
অনুযায়ী: Kirkland, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2004) -
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: aberration measurement and wavefunction reconstruction.
অনুযায়ী: Kirkland, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2004) -
Calculations of limited coherence for high resolution electron microscopy
অনুযায়ী: Chang, L, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2004) -
Structural study of colloidal oxides by high resolution electron microscopy
অনুযায়ী: Kirkland, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1991)