Schäfer, N., Wilkinson, A., Schmid, T., Winkelmann, A., Chahine, G., Schülli, T., . . . Abou-Ras, D. (2016). Microstrain distribution mapping on CuInSe2 thin films by means of electron backscatter diffraction, X-ray diffraction, and Raman microspectroscopy. Elsevier.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Schäfer, N., et al. Microstrain Distribution Mapping on CuInSe2 Thin Films by Means of Electron Backscatter Diffraction, X-ray Diffraction, and Raman Microspectroscopy. Elsevier, 2016.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Schäfer, N., et al. Microstrain Distribution Mapping on CuInSe2 Thin Films by Means of Electron Backscatter Diffraction, X-ray Diffraction, and Raman Microspectroscopy. Elsevier, 2016.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.