$Microstrain distribution mapping on CuInSe2 thin films by means of electron backscatter diffraction, X-ray diffraction, and Raman microspectroscopy.$

Microstrain distribution mapping on CuInSe2 thin films by means of electron backscatter diffraction, X-ray diffraction, and Raman microspectroscopy.

The investigation of the microstructure in functional, polycrystalline thin films is an important contribution to the enhanced understanding of structure-property relationships in corresponding devices. Linear and planar defects within individual grains may affect substantially the performance of th...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Schäfer, N, Wilkinson, A, Schmid, T, Winkelmann, A, Chahine, G, Schülli, T, Rissom, T, Marquardt, J, Schorr, S, Abou-Ras, D
বিন্যাস:	Journal article
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	Elsevier 2016

অনুরূপ উপাদানগুলি

Microstrain distributions in polycrystalline thin film measured by X-ray microdiffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2016)

Electron backscatter diffraction: An important tool for analyses of structure-property relationships in thin-film solar cells
অনুযায়ী: Abou-Ras, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2009)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Crystallite Size and Microstrain Measurement of Cathode Material after Mechanical Milling using Neutron Diffraction Technique
অনুযায়ী: A. Fajar, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010-12-01)

Electron Backscatter Diffraction: An Important Tool for Analyses of Structure-Property Relationships in Thin-Film Solar Cells
অনুযায়ী: Abou-Ras, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
অনুযায়ী: K.K. Dikhanbayev, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2016-10-01)

Electron backscatter diffraction in materials characterization
অনুযায়ী: Dejan Stojakovic
প্রকাশিত: (2012-03-01)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Kamaya, M, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2005)

Applications of multivariate statistical methods and simulation libraries to analysis of electron backscatter diffraction and transmission Kikuchi diffraction datasets
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2018)

Tetragonality of Fe-C martensite – a pattern matching electron backscatter diffraction analysis compared to X-ray diffraction
অনুযায়ী: Tanaka, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020)

Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
অনুযায়ী: Trager-Cowan, C, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006)

Raman microspectroscopy for microbiology
অনুযায়ী: Lee, KS, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2021)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
অনুযায়ী: Dingley, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010)

High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors
অনুযায়ী: Vilalta-Clemente, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2015)

Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Vilalta-Clemente, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2015)

Quantification of plastic strain of stainless steel and nickel alloy by electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Kamaya, M, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006)

Quantitative imaging of anti-phase domains by polarity sensitive orientation mapping using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Naresh-Kumar, G, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2017)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (1997)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
অনুযায়ী: Tong, V, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2015)

Quantitative imaging of anti-phase domains by polarity sensitive orientation mapping using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: G. Naresh-Kumar, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2017-09-01)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2011)

Rapid electron backscatter diffraction mapping: painting by numbers
অনুযায়ী: Tong, V, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2018)

Application of Electron Backscatter Diffraction to Calcite-Twinning Paleopiezometry
অনুযায়ী: Ernest Rutter, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2022-05-01)

High-resolution electron backscatter diffraction: an emerging tool for studying local deformation
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010)

Refinements for Bragg coherent X-ray diffraction imaging: electron backscatter diffraction alignment and strain field computation
অনুযায়ী: Yang, D, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2022)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (2006)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2012)

An iterative method for reference pattern selection in high-resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)
অনুযায়ী: Koko, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2023)

Distribution and formation mechanism of residual stress in duplex stainless steel weld joint by neutron diffraction and electron backscatter diffraction
অনুযায়ী: Yu Wan, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2019-11-01)

Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
অনুযায়ী: Trager-Cowan, C, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006)

Determination of the structural and luminescence properties of nitrides using electron backscattered diffraction and photo- and cathodoluminescence
অনুযায়ী: Trager-Cowan, C, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2002)

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction
অনুযায়ী: Tucker, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2000)

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction
অনুযায়ী: Tucker, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2000)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment
অনুযায়ী: Britton, T, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)