PRECISE DETERMINATION OF THE PERIODICITY FOR MO/SI AND W/C METALLIC MULTILAYERS BY ELECTRON AND X-RAY-DIFFRACTION
Հիմնական հեղինակներ: | Jiang, S, Zou, J, Cockayne, D, Hu, A, Sikorski, A |
---|---|
Ձևաչափ: | Journal article |
Հրապարակվել է: |
1995
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
: Jiang, S, և այլն
Հրապարակվել է: (1997) -
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
: Jiang, S, և այլն
Հրապարակվել է: (1992) -
X-Ray Diffraction Technique for Residual Stress Measurement in NiCrMo Alloy Weld Metal
: Vladimir Ivanovitch Monine, և այլն
Հրապարակվել է: (2018-01-01) -
Wave diffraction by periodic multilayer structures /
: Litvinenko, L. N. (Leonid Nikolaevich), և այլն
Հրապարակվել է: (c201) -
Investigation of structural and reflective characteristics of short-period Mo/B4C multilayer X-ray mirrors
: Roman Shaposhnikov, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-03-01)