PRECISE DETERMINATION OF THE PERIODICITY FOR MO/SI AND W/C METALLIC MULTILAYERS BY ELECTRON AND X-RAY-DIFFRACTION

PRECISE DETERMINATION OF THE PERIODICITY FOR MO/SI AND W/C METALLIC MULTILAYERS BY ELECTRON AND X-RAY-DIFFRACTION

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Jiang, S, Zou, J, Cockayne, D, Hu, A, Sikorski, A
Định dạng:	Journal article
Được phát hành:	1995

Những quyển sách tương tự

Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
Bằng: Jiang, S, et al.
Được phát hành: (1997)

AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
Bằng: Jiang, S, et al.
Được phát hành: (1992)

X-Ray Diffraction Technique for Residual Stress Measurement in NiCrMo Alloy Weld Metal
Bằng: Vladimir Ivanovitch Monine, et al.
Được phát hành: (2018-01-01)

Wave diffraction by periodic multilayer structures /
Bằng: Litvinenko, L. N. (Leonid Nikolaevich), et al.
Được phát hành: (c201)

Investigation of structural and reflective characteristics of short-period Mo/B4C multilayer X-ray mirrors
Bằng: Roman Shaposhnikov, et al.
Được phát hành: (2024-03-01)

Strains and Stresses in Multilayered Materials Determined Using High-Energy X-ray Diffraction
Bằng: Guillaume Geandier, et al.
Được phát hành: (2024-05-01)

X-Ray diffraction.

X-ray diffraction/
Bằng: Azaroff, Leonid V.
Được phát hành: (1974)

X-ray diffraction /
Bằng: 205966 Warren, B. E.
Được phát hành: (1969)

Periodic Multilayer for X-ray Spectroscopy in the Li K Range
Bằng: Vladimir Polkonikov, et al.
Được phát hành: (2021-07-01)

Ultrafast x-ray diffraction
Bằng: Sokolowski-Tinten, K, et al.
Được phát hành: (2005)

Diffraction X-ray optics /
Bằng: 330455 Erko, A. I., et al.
Được phát hành: (1996)

Picosecond X-ray diffraction from shock-compressed metals
Bằng: Rosolanková, K, et al.
Được phát hành: (2005)

Deformation in Metallic Glasses Studied by Synchrotron X-Ray Diffraction
Bằng: Takeshi Egami, et al.
Được phát hành: (2016-01-01)

Structural Properties of He-Irradiated Zr/Nb Multilayer Investigated by Grazing Incidence X-ray Diffraction
Bằng: Tao Wang, et al.
Được phát hành: (2023-03-01)

Dynamical Diffraction of X-Rays in Superlattices
Bằng: A. A. Dyshekov, Yu. P. Khapachev
Được phát hành: (2001-12-01)

Demonstration of femtosecond X-ray pump X-ray probe diffraction on protein crystals
Bằng: Nadia L. Opara, et al.
Được phát hành: (2018-09-01)

X-ray Diffraction Studies
Bằng: Warren, B. E.
Được phát hành: (2010)

X-ray Diffraction Studies
Bằng: Warren, B. E.
Được phát hành: (2010)

X-ray Diffraction Studies
Bằng: Warren, B. E., et al.
Được phát hành: (2010)

X-Ray Diffraction Studies
Bằng: Warren, B. E.
Được phát hành: (2010)

X-ray Diffraction Studies
Bằng: Warren, B. E.
Được phát hành: (2010)

X-ray Diffraction Studies
Bằng: Warren, B. E.
Được phát hành: (2010)

X-ray Diffraction Studies
Bằng: Warren, B. E.
Được phát hành: (2010)

X-ray Diffraction Studies
Bằng: Warren, B. E.
Được phát hành: (2010)

SUBPICOSECOND X-RAY-DIFFRACTION
Bằng: Wark, J, et al.
Được phát hành: (1994)

Elements of X-ray diffraction/
Bằng: 386239 Cullity, Bernard Dennis
Được phát hành: (1956)

Elements of x-ray diffraction /
Bằng: 386239 Cullity, Bernard Dennis
Được phát hành: (1978)

Elements of x-ray diffraction /
Bằng: 464330 Cullity, B. D., et al.
Được phát hành: (2001)

X-ray diffraction analysis /
Bằng: 446663 Rudman, Reuben, et al.
Được phát hành: (1967)

X-ray diffraction by polymers/
Bằng: 231135 Masao Kakudo, et al.
Được phát hành: (1972)

X-ray diffraction method/
Bằng: 231171 Nuffield, E. W.
Được phát hành: (1966)

X-ray diffraction topography /
Bằng: Tanner, B. K. (Brian Keith)
Được phát hành: (1976)

X-ray diffraction tables /
Bằng: 369710 Fang, Jen-Ho
Được phát hành: (1966)

Structural and Chemical Characterization of Rasaparpati w.s.r to X-ray Diffraction
Bằng: Lily Meher, et al.
Được phát hành: (2018-01-01)

Structural and Chemical Characterization of Rasaparpati w.s.r to X-ray Diffraction
Bằng: Lily Meher, et al.
Được phát hành: (2019-01-01)

Discussion on the Precision Evaluation Method of Serpentine Phase Quantitative Analysis by X-ray Diffraction
Bằng: ZHANG Mei, et al.
Được phát hành: (2023-05-01)

X-ray topographic study of defects in Si-based multilayer epitaxial power devices
Bằng: Iren L. Shul'pina, et al.
Được phát hành: (2016-03-01)

Transmission diffraction gratings for soft x-ray spectroscopy and spatial period division
Bằng: Hawryluk, Andrew M
Được phát hành: (2005)

[001] zone-axis bright-field diffraction contrast from coherent Ge(Si) islands on Si(001).
Bằng: Liao, X, et al.
Được phát hành: (2004)