Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
PRECISE DETERMINATION OF THE P...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
PRECISE DETERMINATION OF THE PERIODICITY FOR MO/SI AND W/C METALLIC MULTILAYERS BY ELECTRON AND X-RAY-DIFFRACTION
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Hu, A
,
Sikorski, A
Format:
Journal article
Udgivet:
1995
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
af: Jiang, S, et al.
Udgivet: (1997)
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
af: Jiang, S, et al.
Udgivet: (1992)
X-Ray Diffraction Technique for Residual Stress Measurement in NiCrMo Alloy Weld Metal
af: Vladimir Ivanovitch Monine, et al.
Udgivet: (2018-01-01)
Wave diffraction by periodic multilayer structures /
af: Litvinenko, L. N. (Leonid Nikolaevich), et al.
Udgivet: (c201)
Investigation of structural and reflective characteristics of short-period Mo/B4C multilayer X-ray mirrors
af: Roman Shaposhnikov, et al.
Udgivet: (2024-03-01)