Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
PRECISE DETERMINATION OF THE P...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
PRECISE DETERMINATION OF THE PERIODICITY FOR MO/SI AND W/C METALLIC MULTILAYERS BY ELECTRON AND X-RAY-DIFFRACTION
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Hu, A
,
Sikorski, A
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
1995
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
מאת: Jiang, S, et al.
יצא לאור: (1997)
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
מאת: Jiang, S, et al.
יצא לאור: (1992)
X-Ray Diffraction Technique for Residual Stress Measurement in NiCrMo Alloy Weld Metal
מאת: Vladimir Ivanovitch Monine, et al.
יצא לאור: (2018-01-01)
Wave diffraction by periodic multilayer structures /
מאת: Litvinenko, L. N. (Leonid Nikolaevich), et al.
יצא לאור: (c201)
Investigation of structural and reflective characteristics of short-period Mo/B4C multilayer X-ray mirrors
מאת: Roman Shaposhnikov, et al.
יצא לאור: (2024-03-01)