Jin, X., Peng, C., Deng, Y., Barbieri, M., Nunn, J., & Walmsley, I. (2013). Sequential path entanglement for quantum metrology.
Chicago-viite (17. p.)Jin, X., C. Peng, Y. Deng, M. Barbieri, J. Nunn, ja I. Walmsley. Sequential Path Entanglement for Quantum Metrology. 2013.
MLA-viite (9. p.)Jin, X., et al. Sequential Path Entanglement for Quantum Metrology. 2013.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.