The preferred CSL misorientation distribution in polycrystalline SrTiO3.
Electron backscattered diffraction is used to investigate the preferred CSL (coincidence site lattice) distribution of polycrystalline SrTiO(3) as a function of annealing times (1 h and 16 h). Comparison of the CSL misorientations suggests that the CSL boundary energy plays a role in the preferred g...
Հիմնական հեղինակներ: | Park, M, Shih, S, Cockayne, D |
---|---|
Ձևաչափ: | Conference item |
Հրապարակվել է: |
2007
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Investigation of grain boundaries for abnormal grain growth in polycrystalline SrTiO3
: Shih, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2010) -
Investigation of grain boundaries for abnormal grain growth in polycrystalline SrTiO
: Shin, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2010) -
Universality of electron mobility in LaAlO 3 /SrTiO 3 and bulk SrTiO 3
: Trier, Felix, և այլն
Հրապարակվել է: (2021) -
Electronic properties and surface reactivity of SrO-terminated SrTiO3 and SrO-terminated iron-doped SrTiO3
: Aleksandar Staykov, և այլն
Հրապարակվել է: (2018-12-01) -
Solid phase epitaxy of SrRuO3 encapsulated by SrTiO3 membranes
: Jieyang Zhou, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-09-01)