Nanoscale stoichiometric analysis of a high-temperature superconductor by atom probe tomography

Nanoscale stoichiometric analysis of a high-temperature superconductor by atom probe tomography

The functional properties of the high temperature superconductor Y1Ba2Cu3O7- (Y-123) are closely correlated to the exact stoichiometry and oxygen content. Exceeding the critical value of 1 oxygen vacancy for every 5 unit cells ( > 0.2, which translates to a 1.5 at.% deviation from the nomi...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Pedrazzini, S, London, A, Gault, B, Saxey, D, Speller, S, Grovenor, C, Danaie, M, Moody, M, Edmondson, P, Bagot, P
Формат:	Journal article
Опубліковано:	Cambridge University Press 2017

Схожі ресурси

Understanding the nanoscale chemistry of as-received and fast neutron irradiated Nb3Sn RRP® wires using Atom Probe Tomography
за авторством: Wheatley, L E, та інші
Опубліковано: (2023)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography.
за авторством: Dagan, M, та інші
Опубліковано: (2015)

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2008)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
за авторством: Muller, M, та інші
Опубліковано: (2010)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
за авторством: Müller, M, та інші
Опубліковано: (2010)

Atom Probe Tomography investigations of microstructural evolution in an aged nickel superalloy for exhaust applications
за авторством: Gardner, H, та інші
Опубліковано: (2019)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography
за авторством: Dagan, M, та інші
Опубліковано: (2015)

Phase separation in thick InGaN layers - A quantitative, nanoscale study by pulsed laser atom probe tomography
за авторством: Mueller, M, та інші
Опубліковано: (2012)

An Atom Probe Tomography study of site preference and partitioning in a nickel-based superalloy
за авторством: Bagot, P, та інші
Опубліковано: (2016)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
за авторством: Jenkins, BM, та інші
Опубліковано: (2020)

Atom probe tomography of Au-Cu bimetallic nanoparticles synthesized by inert gas condensation
за авторством: Yang, Q, та інші
Опубліковано: (2019)

Simplifying observation of hydrogen trapping in atom probe tomography
за авторством: Chen, Y, та інші
Опубліковано: (2017)

New nanoscale artificial pinning centres for NbTi superconductors
за авторством: Mousavi, T, та інші
Опубліковано: (2020)

Atom Probe Tomography of Hydrogen in a Ferritic steel
за авторством: Haley, D, та інші
Опубліковано: (2017)

Using alpha hulls to automatically and reproducibly detect edge clusters in atom probe tomography datasets
за авторством: Jenkins, B, та інші
Опубліковано: (2019)

Atom probe tomography analysis of the reference zircon gj-1: An interlaboratory study
за авторством: Exertier, F, та інші
Опубліковано: (2018)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2008)

Characterizing nanoscale precipitation in a titanium alloy by laser-assisted atom probe tomography
за авторством: Coakley, J, та інші
Опубліковано: (2018)

Spatial resolution in atom probe tomography.
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2010)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
за авторством: Moody, M, та інші
Опубліковано: (2008)

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2010)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
за авторством: Mueller, M, та інші
Опубліковано: (2011)

Observing hydrogen in steel using cryogenic atom probe tomography: a simplified approach
за авторством: Chen, Y, та інші
Опубліковано: (2019)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
за авторством: Mueller, M, та інші
Опубліковано: (2012)

Atom probe tomography of a cu-doped TiNiSn thermoelectric material: nanoscale structure and optimisation of analysis conditions
за авторством: Henry, H, та інші
Опубліковано: (2021)

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1988)

Nanoscale analysis of frozen honey by atom probe tomography
за авторством: Tim M. Schwarz, та інші
Опубліковано: (2022-10-01)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2011)

Advances in the reconstruction of atom probe tomography data.
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2011)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
за авторством: Tang, F, та інші
Опубліковано: (2010)

Effect of Sn Addition in Preprecipitation Stage in Al-Cu Alloys: A Correlative Transmission Electron Microscopy and Atom Probe Tomography Study
за авторством: Homma, T, та інші
Опубліковано: (2012)

Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
за авторством: Lozano-Perez, S, та інші
Опубліковано: (2010)

Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
за авторством: Lozano-Perez, S, та інші
Опубліковано: (2010)

Atom probe crystallography
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2012)

Comparing the consistency of atom probe tomography measurements of small-scale segregation and clustering between the LEAP 3000 and LEAP 5000 instruments.
за авторством: Martin, T, та інші
Опубліковано: (2017)

Mining information from atom probe data
за авторством: Cairney, J, та інші
Опубліковано: (2015)

DF-Fit: a robust algorithm for detection of crystallographic information in atom probe tomography data
за авторством: Haley, D, та інші
Опубліковано: (2019)

DF-Fit: a robust algorithm for detection of crystallographic information in atom probe tomography data
за авторством: Haley, D, та інші
Опубліковано: (2018)

Design and characterisation of ex-situ bulk MgB2 superconductors containing a nanoscale dispersion of artificial pinning centres
за авторством: Matthews, G, та інші
Опубліковано: (2020)

A UK Facility for Atom Probe Tomography Analysis
за авторством: Marquis, E, та інші
Опубліковано: (2009)