Ir para o conteúdo
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Palavra solta
Título
Autor
Assunto
Área/Cota
ISBN/ISSN
Tag
Pesquisar
Avançada
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEA...
Citar
Enviar por SMS
Enviar por email
Imprimir
Exportar registo
Exportar para RefWorks
Exportar para EndNoteWeb
Exportar para EndNote
Permanent link
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Detalhes bibliográficos
Autor principal:
Cockayne, D
Formato:
Journal article
Publicado em:
1973
Exemplares
Descrição
Registos relacionados
Registo fonte
Registos relacionados
WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
Por: Cockayne, D
Publicado em: (1981)
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Por: Cockayne, D
Publicado em: (1972)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
Por: Cockayne, D
Publicado em: (1999)
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
Por: Cockayne, D, et al.
Publicado em: (1979)
STUDY OF GUINIER-PRESTON ZONES IN ALUMINUM-COPPER ALLOYS USING WEAK-BEAM TECHNIQUE OF ELECTRON-MICROSCOPY
Por: Yoshida, H, et al.
Publicado em: (1976)