Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFEC...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFECTS USING ION CHANNELING
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
King, P
,
Breese, M
,
Wilshaw, P
,
Booker, G
,
Grime, C
,
Watt, F
,
Goringe, M
Format:
Conference item
Udgivet:
1993
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
CRYSTAL DEFECT IMAGING USING TRANSMISSION ION CHANNELING
af: King, P, et al.
Udgivet: (1994)
IMAGING OF DEEP DEFECTS USING TRANSMISSION ION CHANNELING
af: King, P, et al.
Udgivet: (1995)
DISLOCATION IMAGING WITH A SCANNING PROTON MICROPROBE USING CHANNELING SCANNING-TRANSMISSION ION MICROSCOPY (CSTIM)
af: King, P, et al.
Udgivet: (1993)
TRANSMISSION ION CHANNELING IMAGES OF CRYSTAL DEFECTS
af: King, P, et al.
Udgivet: (1995)
Defect imaging and channeling studies using channeling scanning transmission ion microscopy
af: King, P, et al.
Udgivet: (1996)