Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFEC...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFECTS USING ION CHANNELING
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
King, P
,
Breese, M
,
Wilshaw, P
,
Booker, G
,
Grime, C
,
Watt, F
,
Goringe, M
Formatua:
Conference item
Argitaratua:
1993
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
CRYSTAL DEFECT IMAGING USING TRANSMISSION ION CHANNELING
nork: King, P, et al.
Argitaratua: (1994)
IMAGING OF DEEP DEFECTS USING TRANSMISSION ION CHANNELING
nork: King, P, et al.
Argitaratua: (1995)
DISLOCATION IMAGING WITH A SCANNING PROTON MICROPROBE USING CHANNELING SCANNING-TRANSMISSION ION MICROSCOPY (CSTIM)
nork: King, P, et al.
Argitaratua: (1993)
TRANSMISSION ION CHANNELING IMAGES OF CRYSTAL DEFECTS
nork: King, P, et al.
Argitaratua: (1995)
Defect imaging and channeling studies using channeling scanning transmission ion microscopy
nork: King, P, et al.
Argitaratua: (1996)