Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFEC...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFECTS USING ION CHANNELING
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
King, P
,
Breese, M
,
Wilshaw, P
,
Booker, G
,
Grime, C
,
Watt, F
,
Goringe, M
Aineistotyyppi:
Conference item
Julkaistu:
1993
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
CRYSTAL DEFECT IMAGING USING TRANSMISSION ION CHANNELING
Tekijä: King, P, et al.
Julkaistu: (1994)
IMAGING OF DEEP DEFECTS USING TRANSMISSION ION CHANNELING
Tekijä: King, P, et al.
Julkaistu: (1995)
DISLOCATION IMAGING WITH A SCANNING PROTON MICROPROBE USING CHANNELING SCANNING-TRANSMISSION ION MICROSCOPY (CSTIM)
Tekijä: King, P, et al.
Julkaistu: (1993)
TRANSMISSION ION CHANNELING IMAGES OF CRYSTAL DEFECTS
Tekijä: King, P, et al.
Julkaistu: (1995)
Defect imaging and channeling studies using channeling scanning transmission ion microscopy
Tekijä: King, P, et al.
Julkaistu: (1996)