Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFEC...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
IMAGING OF SEMICONDUCTOR DEFECTS USING ION CHANNELING
Bibliografski detalji
Glavni autori:
King, P
,
Breese, M
,
Wilshaw, P
,
Booker, G
,
Grime, C
,
Watt, F
,
Goringe, M
Format:
Conference item
Izdano:
1993
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
CRYSTAL DEFECT IMAGING USING TRANSMISSION ION CHANNELING
od: King, P, i dr.
Izdano: (1994)
IMAGING OF DEEP DEFECTS USING TRANSMISSION ION CHANNELING
od: King, P, i dr.
Izdano: (1995)
DISLOCATION IMAGING WITH A SCANNING PROTON MICROPROBE USING CHANNELING SCANNING-TRANSMISSION ION MICROSCOPY (CSTIM)
od: King, P, i dr.
Izdano: (1993)
TRANSMISSION ION CHANNELING IMAGES OF CRYSTAL DEFECTS
od: King, P, i dr.
Izdano: (1995)
Defect imaging and channeling studies using channeling scanning transmission ion microscopy
od: King, P, i dr.
Izdano: (1996)