Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Bibliografski detalji
Glavni autori:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Format:
Conference item
Izdano:
1993
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Opis
Sažetak:
Slični predmeti
Quantitative STM imaging of metal surfaces
od: Clarke, A, i dr.
Izdano: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
od: Mayne, A, i dr.
Izdano: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
od: Jones, F, i dr.
Izdano: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
od: Jones, F, i dr.
Izdano: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
od: Howard, A, i dr.
Izdano: (2000)