Hoppa till innehåll
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Språk
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
Signum
ISBN/ISSN
Tagg
Sök
Avancerad
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Hänvisa
Textmeddelande
Skicka per e-post
Skriv ut
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsmän:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Materialtyp:
Conference item
Publicerad:
1993
Beståndsuppgifter
Beskrivning
Liknande verk
Katalogiseringsuppgifter
Beskrivning
Sammanfattning:
Liknande verk
Quantitative STM imaging of metal surfaces
av: Clarke, A, et al.
Publicerad: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
av: Mayne, A, et al.
Publicerad: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
av: Jones, F, et al.
Publicerad: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
av: Jones, F, et al.
Publicerad: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
av: Howard, A, et al.
Publicerad: (2000)