Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Бібліографічні деталі
Автори:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Формат:
Conference item
Опубліковано:
1993
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Quantitative STM imaging of metal surfaces
за авторством: Clarke, A, та інші
Опубліковано: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
за авторством: Mayne, A, та інші
Опубліковано: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
за авторством: Jones, F, та інші
Опубліковано: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
за авторством: Jones, F, та інші
Опубліковано: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
за авторством: Howard, A, та інші
Опубліковано: (2000)