Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Formatua:
Conference item
Argitaratua:
1993
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
Quantitative STM imaging of metal surfaces
nork: Clarke, A, et al.
Argitaratua: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
nork: Mayne, A, et al.
Argitaratua: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
nork: Jones, F, et al.
Argitaratua: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
nork: Jones, F, et al.
Argitaratua: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
nork: Howard, A, et al.
Argitaratua: (2000)