Aller au contenu
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Langue
Tous les champs
Titre
Auteur
Sujet
Cote
ISBN/ISSN
Tag
Rechercher
Recherche avancée
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Citer
Envoyer par SMS
Envoyer par courriel
Imprimer
Exporter les notices
Exporter vers RefWorks
Exporter vers EndNoteWeb
Exporter vers EndNote
Permalien
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Détails bibliographiques
Auteurs principaux:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Format:
Conference item
Publié:
1993
Exemplaires
Description
Documents similaires
Affichage MARC
Documents similaires
Quantitative STM imaging of metal surfaces
par: Clarke, A, et autres
Publié: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
par: Mayne, A, et autres
Publié: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
par: Jones, F, et autres
Publié: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
par: Jones, F, et autres
Publié: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
par: Howard, A, et autres
Publié: (2000)