Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Μορφή:
Conference item
Έκδοση:
1993
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Quantitative STM imaging of metal surfaces
ανά: Clarke, A, κ.ά.
Έκδοση: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
ανά: Mayne, A, κ.ά.
Έκδοση: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
ανά: Jones, F, κ.ά.
Έκδοση: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
ανά: Jones, F, κ.ά.
Έκδοση: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
ανά: Howard, A, κ.ά.
Έκδοση: (2000)