Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Formáid:
Conference item
Foilsithe / Cruthaithe:
1993
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Míreanna comhchosúla
Quantitative STM imaging of metal surfaces
de réir: Clarke, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
de réir: Mayne, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
de réir: Jones, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
de réir: Jones, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
de réir: Howard, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2000)