Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
WORK FUNCTION AT A SILICON SUR...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Permanent link
WORK FUNCTION AT A SILICON SURFACE ATOMICALLY RESOLVED BY STM
Bibliografske podrobnosti
Main Authors:
Pethica, J
,
Knall, J
,
Wilson, J
Format:
Conference item
Izdano:
1993
Zaloga
Opis
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Podobne knjige/članki
Quantitative STM imaging of metal surfaces
od: Clarke, A, et al.
Izdano: (1996)
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
od: Mayne, A, et al.
Izdano: (1993)
Superstructures and defect structures revealed by atomic-scale STM imaging of WO3(001).
od: Jones, F, et al.
Izdano: (1995)
An STM study of surface structures on WO3(001)
od: Jones, F, et al.
Izdano: (1996)
The surface structure of TiO2(210) studied by atomically resolved STM and atomistic simulation
od: Howard, A, et al.
Izdano: (2000)