Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
Export Ready —
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Médium:
Conference item
Vydáno:
1991
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
Autor: Ahmed, J, a další
Vydáno: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
Autor: Ahmed, J, a další
Vydáno: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
Autor: Czernuszka, J, a další
Vydáno: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
Autor: Czernuszka, J, a další
Vydáno: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
Autor: Wilkinson, A, a další
Vydáno: (1994)