Neidio i'r cynnwys
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Iaith
Pob Maes
Teitl
Awdur
Pwnc
Rhif Galw
ISBN/ISSN
Tag
Canfod
Uwch
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Dyfynnu hwn
Anfonwch hwn fel neges destun
E-bostio hwn
Argraffu
Allforio Cofnod
Allforio i RefWorks
Allforio i EndNoteWeb
Allforio i EndNote
Permanent link
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awduron:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Fformat:
Conference item
Cyhoeddwyd:
1991
Daliadau
Disgrifiad
Eitemau Tebyg
Dangos Staff
Eitemau Tebyg
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
gan: Ahmed, J, et al.
Cyhoeddwyd: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
gan: Ahmed, J, et al.
Cyhoeddwyd: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
gan: Czernuszka, J, et al.
Cyhoeddwyd: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
gan: Czernuszka, J, et al.
Cyhoeddwyd: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
gan: Wilkinson, A, et al.
Cyhoeddwyd: (1994)