Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Aineistotyyppi:
Conference item
Julkaistu:
1991
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
Tekijä: Ahmed, J, et al.
Julkaistu: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
Tekijä: Ahmed, J, et al.
Julkaistu: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
Tekijä: Czernuszka, J, et al.
Julkaistu: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
Tekijä: Czernuszka, J, et al.
Julkaistu: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
Tekijä: Wilkinson, A, et al.
Julkaistu: (1994)