Saltar ao contenido
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
Avanzado
  • ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
  • Citar
  • Text this
  • Enviar este rexistro por email
  • Imprimir
  • Exportar rexistro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Permanent link
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS

ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS

Detalles Bibliográficos
Main Authors: Czernuszka, J, Long, N, Boyes, E, Hirsch, P
Formato: Conference item
Publicado: 1991
  • Existencias
  • Descripción
  • Títulos similares
  • Staff View

Títulos similares

  • Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
    por: Ahmed, J, et al.
    Publicado: (1997)
  • Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
    por: Ahmed, J, et al.
    Publicado: (1999)
  • ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
    por: Czernuszka, J, et al.
    Publicado: (1991)
  • ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
    por: Czernuszka, J, et al.
    Publicado: (1991)
  • Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
    por: Wilkinson, A, et al.
    Publicado: (1994)

Opciones de procura

  • Historial de Procuras
  • Procura avanzada

Buscar Máis

  • Revisar o catálogo
  • Lista alfabética
  • Explore Channels
  • Reservas de curso
  • Novos exemplares

Necesita Axuda?

  • Consello de procura
  • Consulte a un Bibliotecario
  • Preguntas Frecuentes