Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Bibliografski detalji
Glavni autori:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Format:
Conference item
Izdano:
1991
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
od: Ahmed, J, i dr.
Izdano: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
od: Ahmed, J, i dr.
Izdano: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
od: Czernuszka, J, i dr.
Izdano: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
od: Czernuszka, J, i dr.
Izdano: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
od: Wilkinson, A, i dr.
Izdano: (1994)